Фотоелектричні модулі є найважливішим обладнанням у фотоелектричному виробництві електроенергії. Особливі обставини в щоденному процесі встановлення та експлуатації та технічного обслуговування призведуть до ефекту гарячої точки та потенційного індукованого загасання (PID) фотоелектричних модулів, що завдасть збитків більшості власників, тому ми повинні звернути увагу на контроль фотоелектричної електростанції, щоб уникнути цих два ефекту під час монтажу та щоденного обслуговування електростанції.
1. Ефект гарячої точки
Затінений модуль сонячної батареї в послідовній гілці буде використовуватися як навантаження для споживання енергії, виробленої іншими освітленими модулями сонячних батарей, а затінений модуль сонячних батарей буде генерувати тепло в цей час, що є ефектом гарячої точки.
Цей ефект може серйозно пошкодити сонячні елементи. Частина енергії, виробленої сонячними елементами, які освітлені, може споживатися елементами, які затінені. Ефектом гарячої точки може бути лише шматочок пташиного посліду.
Щоб запобігти пошкодженню сонячного елемента через ефект гарячої точки, найкраще підключити байпасний діод паралельно між позитивним і негативним полюсами модуля сонячної батареї, щоб запобігти споживанню енергії, виробленої світловим модулем. за допомогою затіненого модуля. Коли ефект гарячої точки є серйозним, байпасний діод може вийти з ладу, що спричинить перегорання компонента.
2. Ефект PID
Ефект ослаблення, викликаного потенціалом, полягає в тому, що компоненти батареї піддаються впливу високої напруги протягом тривалого часу, викликаючи струм витоку між склом і матеріалом інкапсуляції, і велика кількість заряду атакує поверхню батареї, що погіршує її пасивуючий ефект поверхні батареї і призводить до того, що продуктивність компонента буде нижчою, ніж проектний стандарт. Якщо явище PID серйозне, потужність модуля буде ослаблена більш ніж на 50 відсотків, що вплине на вихідну потужність всієї струни. Явище PID найбільш схильне до виникнення у прибережних районах з високою температурою, високою вологістю та високою солоністю.
Після створення ефекту PID деякі батареї мають високий опір, і основні причини явища компонентного PID такі:
Одна з причин конструкції системи: заземлення блискавкозахисту фотоелектричної електростанції реалізується шляхом заземлення рамки модуля на краю квадратного масиву, що викликає напругу зміщення між одним модулем і рамою. Чим вище напруга зміщення модуля, тим виникне явище PID. Тим серйозніше. Для компонентів кристалічного кремнію P-типу заземлення негативного полюса інвертора з трансформатором для усунення позитивного зміщення рамки компонента відносно елемента ефективно запобіжить виникнення явища PID, але негативне заземлення інвертора збільшить відповідна вартість будівництва системи;
Друга причина — фотоелектричний модуль: висока температура та висока вологість у зовнішньому середовищі викликають струм витоку між сонячним елементом і каркасом заземлення, а канал струму витоку утворюється між пакувальним матеріалом, задньою платою, склом та рамою. Заміна ізоляційної плівки EVA є одним із способів реалізації анти-PID модуля. За умови використання іншої інкапсулюючої плівки EVA, анти-PID продуктивність модуля буде різною. Крім того, скло в фотоелектричних модулях в основному є вапняно-натрієвим склом, і вплив скла на PID-феномен фотоелектричних модулів досі неясний;
Третя причина для комірки: рівномірність опору шару комірки, товщина антивідбивного шару та показник заломлення по-різному впливають на продуктивність PID. Серед трьох вищевказаних аспектів, які спричиняють феномен PID, феномен PID модуля, викликаний різницею потенціалів між каркасом модуля та модулем у фотоелектричній системі, визнається промисловістю, але механізм, за допомогою якого модуль створює феномен PID у Два аспекти модуля і осередку поки що не зрозуміли. Зрозуміло, що відповідні заходи щодо подальшого покращення анти-PID продуктивності компонентів поки невідомі.
